HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Cathodoluminescence properties of pn junctions in GaN using oblique cutting methodsジョ ユージン, 姚 遠昭, 羅 顕佳, 木村 隆, 関口 隆史. Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors. 2017.NIMS著者ジョ ユージン木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-09-29 22:30:10 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:13:35 +0900