Direct quantitative visualization of band profile across III-V devices using Kelvin probe force microscopy
Compound Semiconductor Week 2026 (CSW2026) . 2026年05月24日-2026年05月28日.
NIMS著者
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作成時刻: 2026-05-30 03:06:17 +0900 更新時刻: 2026-05-30 03:06:17 +0900