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著者名BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki, MANO, Takaaki, OHNO, Takahisa.
タイトルDiffraction mapping for evaluation of the lattice constant deviation at thin film interface
会議名The 3rd East-Asia Microscopy Conference
発表年2017
言語English
外部での文献参照

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