HOME > 口頭発表 > 書誌詳細He+ LEIS analysis combined with pulsed jet technique of ethanol sensing by a ZnO surface鈴木 拓, 安達 裕, 大垣 武, 坂口 勲. 第２１回「イオンビームによる表面・界面の解析と改質」特別研究会. 2020.NIMS著者鈴木 拓安達 裕大垣 武坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-12-22 03:00:21 +0900更新時刻: 2020-12-22 03:00:21 +0900
