SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

Observation of interface melting in the Si/ Al interface by TOF-SIMS
(TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解現象の観測)

著者KITAZAWA, Hideaki, WATANABE, Norimichi, SZABELEWSKI, Jakub, Jakub Szabelewsk, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke.
会議名ISSS-8
発表年2017
言語English

▲ページトップへ移動