HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Observation of interface melting in the Si/ Al interface by TOF-SIMS(TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解現象の観測)KITAZAWA, Hideaki, WATANABE, Norimichi, SZABELEWSKI, Jakub, Jakub Szabelewsk, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke. ISSS-8. 2017.NIMS著者北澤 英明間宮 広明藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-12-06 22:01:11 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:14:00 +0900