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NIMS一般公開2024

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Application of transition-edge sensor type microcalorimeter x-ray detector for compositional analysis in scanning electron microscopy

HARA, Toru, 田中 啓一, MITSUDA, Kazuhisa, MAEHATA, Keisuke, 山中 良浩, 日高 睦夫, 中村 邦康.
12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19. 2019年10月20日-2019年10月25日. 招待講演

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    作成時刻: 2020-03-24 03:00:27 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:21:26 +0900

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