TEM sample preparation using new nano-fabrication technique combining electron-beam-induced deposition and low energy ion millin
10th Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials. 2005年09月25日-2005年09月30日.
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作成時刻: 2022-09-05 11:44:08 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:44:08 +0900