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著者名Bin Han, Yasuo Shimizu, Kouji Inoue, JEVASUWAN, Wipakorn, FUKATA, Naoki, Yasuyoshi Nagai.
タイトルDopant Distribution in Ge / Si Core-Shell Nanowires Investigated by Atom Probe Tomography
(アトムプローブ法によるGe/Siコアシェルナノワイヤ中の不純物分布)
会議名2015 MRS Fall Meeting
発表年2015
言語English
外部での文献参照

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