2探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電気計測
(Nanoscale electric measurements by double-probe scanning tunneling microscope)
スピンエレクトロニクスにおけるナノ加工と計測ワークショップ. 2005.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:17:41 +0900更新時刻: 2018-05-30 19:27:01 +0900