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2探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電気計測
(Nanoscale electric measurements by double-probe scanning tunneling microscope)

著者久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和.
会議名スピンエレクトロニクスにおけるナノ加工と計測ワークショップ
発表年2005
言語Japanese

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