HOME > Presentation > Detail2探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電気計測(Nanoscale electric measurements by double-probe scanning tunneling microscope)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. スピンエレクトロニクスにおけるナノ加工と計測ワークショップ. 2005.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaNAKAYAMA, TomonobuAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-01-08 03:17:41 +0900 Updated at :2018-05-30 19:27:01 +0900