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2探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電気計測
(Nanoscale electric measurements by double-probe scanning tunneling microscope)

スピンエレクトロニクスにおけるナノ加工と計測ワークショップ. 2005.

NIMS author(s)


Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at :2017-01-08 03:17:41 +0900 Updated at :2018-05-30 19:27:01 +0900

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