Over-current test on an intra-layer no-insulation (LNI) REBCO coil under a high background field

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末富佑, 高橋俊二, 吉田大佐, 朴任中, KITAGUCHI, Hitoshi, 三好康之, 高尾智明, 柳澤吉紀, NISHIJIMA, Gen, 濱田衛, 斉藤一功, 前田秀明.

26th International Conference on Magnet Technology (MT-26). 2019年09月22日-2019年09月27日.

作成時刻: 2020-02-29 03:17:13 +0900更新時刻: 2020-02-29 03:17:13 +0900