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著者名ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 大西 剛, 間野 高明, 大野 隆央.
タイトルAccurate Measurement of the Lattice Constant Deviation at Thin Film Interface by diffraction mapping
会議名the 74rd Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy
発表年2018
言語Japanese
外部での文献参照

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