HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Accurate Measurement of the Lattice Constant Deviation at Thin Film Interface by diffraction mappingベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 大西 剛, 間野 高明, 大野 隆央. the 74rd Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy. 2018年05月29日-2018年05月31日.NIMS著者三石 和貴上杉 文彦竹口 雅樹大西 剛間野 高明Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-06-13 08:25:54 +0900更新時刻: 2018-06-13 08:25:54 +0900