HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Characterization of hole gas accumulation in p-Si/i-Ge core-shell and p-Si/i-Ge/p-Si core-double shell nanowires張 小龍, ジェバスワン ウイパコーン, 深田 直樹. The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018. 2018.NIMS著者ジェバスワン ウイパコーン深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900更新時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900