Characterization of hole gas accumulation in p-Si/i-Ge core-shell and p-Si/i-Ge/p-Si core-double shell nanowires
The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018. 2018年09月18日-2018年09月21日.
NIMS著者
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作成時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900 更新時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900