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著者名張 小龍, ジェバスワン ウイパコーン, 深田 直樹.
タイトルCharacterization of hole gas accumulation in p-Si/i-Ge core-shell and p-Si/i-Ge/p-Si core-double shell nanowires
会議名The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018
発表年2018
言語Japanese
外部での文献参照

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