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Characterization of hole gas accumulation in p-Si/i-Ge core-shell and p-Si/i-Ge/p-Si core-double shell nanowires

The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018. 2018.

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    作成時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900更新時刻: 2018-07-15 16:49:23 +0900

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