HOME > 公開特許出願 > 書誌詳細[公開特許出願] ワイドギャップ半導体のバンドギャップ電子物性の計測方法2011-04-21. 特開2011082353号 (Google Patents) , 特許5541664号NIMS著者角谷 正友色川 芳宏作成時刻 :2023-07-22 21:45:28 +0900 更新時刻 :2023-07-22 21:45:28 +0900
