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[公開特許出願] 局所ポテンシャル障壁高さのパラメータ依存性測定方法

2004-09-02. 特開2004245698号 (Google Patents) , 特許3834642号

NIMS著者


作成時刻 :2023-07-22 21:44:52 +0900 更新時刻 :2023-07-22 21:44:52 +0900

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