石英基板へ負Cuイオン照射中に発生する発光のその場測定 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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In-situ Measurement of Light Emission by Negative Cu Ion Implantation in Silica Glass
(石英基板へ負Cuイオン照射中に発生する発光のその場測定)

Thi Thi Lay, AMEKURA, Hiroshi, TAKEDA, Yoshihiko, KISHIMOTO, Naoki, Bandourko V V, Thi Thi Lay, Bandourko V V.

Proc. 5th Int. Symp. Appl. Phys. Field 223-228. 2000.

NIMS著者

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作成時刻: 2022-09-05 11:04:48 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:04:48 +0900

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