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Determination of stacking structure of the epitaxy of bismuth thin films on a Si(111)

C.J. Walker, 坂田修身, 柳沼晋, NAGAO, Tadaaki.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2020-11-20 10:39:52 +0900 更新時刻 :2020-11-20 10:39:52 +0900

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