HOME > その他の文献 > 書誌詳細Determination of stacking structure of the epitaxy of bismuth thin films on a Si(111)C.J. Walker, 坂田修身, 柳沼晋, NAGAO, Tadaaki. SPring-8 User Experiment Report 13 88-88. 2004.NIMS著者長尾 忠昭Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2020-11-20 10:39:52 +0900 更新時刻 :2020-11-20 10:39:52 +0900