HOME > その他の文献 > 書誌詳細Metastable defects in oxide thin films小松学, 荻野剛士, HISHITA, Shunichi, 大吉啓司, OHASHI, Naoki, HANEDA, Hajime, 竹中正. Key Engineering Materials 155-158. 1999.NIMS著者大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:56:29 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:56:29 +0900
