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Compressive creep behaviour of Yb4Si2O7N2 containing silicon nitride ceramic between 1400 and 1500 ℃
(Yb4Si2O7N2含有窒化ケイ素の1400と1500℃の圧縮クリープ)

S. Guo, N. Hirosaki, T. Nishimura, Y. Yamamoto, M. Mitomo.
Materials Science and Technology 19 [4] 544-548. 2003.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 11:57:21 +0900 更新時刻: 2026-08-29 04:57:36 +0900

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