HOME > 論文 > 書誌詳細Application of transmission electron microscope to nanometre-sized fabrication by means of electron beam-induced deposition(電子線誘起蒸着法を用いたナノファブリケーションへの透過型電子顕微鏡の適用)M. Shimojo, K. Mitsuishi, M. Tanaka, M. Han, K. Furuya. Journal of Microscopy 214 [1] 76-79. 2004.https://doi.org/10.1111/j.0022-2720.2004.01307.x NIMS著者三石 和貴田中 美代子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:59:39 +0900更新時刻: 2024-04-02 06:31:28 +0900