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著者名 | Takehiko Yorozu, Xiao Hu. |
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タイトル | Micromagnetic analyses of reversal process with twisted wall structure |
掲載誌名 | Journal of Applied Physics 95 [10] 5633-5640 ISSN: 00218979, 10897550 ESIでのカテゴリ: PHYSICS |
出版社 | AIP Publishing |
発表年 | 2004 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/1.1702099 |
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