Structural evaluation of ions-implanted GaN films by photothermal deflection spectroscopy
(N/A)
著者 | Masatomo Sumiya, Kiyotaka Fukuda, Hideo Iwai, Tomohiro Yamaguchi, Takeyoshi Onuma, Tohru Honda. |
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掲載誌名 | AIP Advances 8 [11] 115225 ISSN: 21583226 ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE |
出版社 | AIP Publishing |
発表年 | 2018 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/1.5052493 |
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