Structural evaluation of ions-implanted GaN films by photothermal deflection spectroscopy
(N/A)

著者	Masatomo Sumiya, Kiyotaka Fukuda, Hideo Iwai, Tomohiro Yamaguchi, Takeyoshi Onuma, Tohru Honda.
掲載誌名	AIP Advances 8 [11] 115225 ISSN: 21583226 ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社	AIP Publishing
発表年	2018
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.5052493
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