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Structural evaluation of ions-implanted GaN films by photothermal deflection spectroscopy
(N/A)

著者Masatomo Sumiya, Kiyotaka Fukuda, Hideo Iwai, Tomohiro Yamaguchi, Takeyoshi Onuma, Tohru Honda.
掲載誌名AIP Advances 8 [11] 115225
ISSN: 21583226
ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社AIP Publishing
発表年2018
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.5052493
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