HOME > 論文 > 書誌詳細極限物理場環境走査型トンネル顕微鏡の開発(Development of Scanning Tunneling Microscopy under Extreme Fields)藤田 大介, 鷺坂 恵介. 顕微鏡 40 [1] 14-19. 2005.NIMS著者藤田 大介鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 14:41:51 +0900 更新時刻 :2018-12-14 22:27:44 +0900