STM及びAFMを用いたナノメーターから原子スケールの構造作製 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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STM及びAFMを用いたナノメーターから原子スケールの構造作製
(Fabrication of nanometer to atomic-scale structures using STM and AFM)

根城均, 藤田大介, H.Sheng, 内橋隆, U.Ramsperger, S.Odasso, D.Rogers, 岡本洋, Z.Dong, 矢の部太郎, 大木泰造, 雨宮克樹, 惣津寧.

表面科学 . 1998.

NIMS著者

内橋隆

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 10:52:32 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:52:32 +0900

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