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著者名Eita Tochigi, Hirofumi Matsuhata, Hirotaka Yamaguchi, Takashi Sekiguchi, Hajime Okumura, Yuichi Ikuhara.
タイトルInvestigation of V-shaped extended defects in a 4H–SiC epitaxial film
掲載誌名Philosophical Magazine 97 9 657 670
ISSN: 14786443 14786435
発表年2017
言語English
DOI10.1080/14786435.2016.1275869
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