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GaAs/AlAs Superlattice as a Proposed New Reference Material for the Sputter Depth Profiling.
(スパッタリングによる深さ方向解析用標準試料としてのGaAs/AlAs超格子.)

吉原一紘, D.W.Moon, K. Yoshihara, D. W. Moon, D. Fujita, K. J. Kim, K. Kajiwara.
Surface and Interface Analysis 20 [13] 1061-1066. 1993.
https://doi.org/10.1002/sia.740201306

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      作成時刻: 2016-05-24 11:34:13 +0900更新時刻: 2024-04-01 17:47:02 +0900

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