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| 著者名 | J Alvarez, M Boutchich, J P Kleider, T Teraji, Y Koide. |
|---|---|
| タイトル | Direct observation of the leakage current in epitaxial diamond Schottky barrier devices by conductive-probe atomic force microscopy and Raman imaging |
| 掲載誌名 | Journal of Physics D: Applied Physics 47 [35] 355102 ISSN: 00223727, 13616463 ESIでのカテゴリ: PHYSICS |
| 出版社 | IOP Publishing |
| 発表年 | 2014 |
| 言語 | English |
| DOI | https://doi.org/10.1088/0022-3727/47/35/355102 |
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