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Direct observation of the leakage current in epitaxial diamond Schottky barrier devices by conductive-probe atomic force microscopy and Raman imaging

J Alvarez, M Boutchich, J P Kleider, T Teraji, Y Koide.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 17:45:25 +0900 更新時刻: 2025-06-14 09:05:41 +0900

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