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著者名J Alvarez, M Boutchich, J P Kleider, T Teraji, Y Koide.
タイトルDirect observation of the leakage current in epitaxial diamond Schottky barrier devices by conductive-probe atomic force microscopy and Raman imaging
掲載誌名Journal of Physics D: Applied Physics 47 [35] 355102
ISSN: 00223727, 13616463
ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社IOP Publishing
発表年2014
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1088/0022-3727/47/35/355102
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