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Scanning SQUID Microscopy Observation of Grain Boundary Junction in Tri-Phase Epitaxy NbBa2Cu3O7-δThin Film
(TPE法により作製されたNdBa2Cu3O7-δ薄膜 粒界接合の走査SQUID顕微鏡観察)

Shunichi Arisawa, Kyungsung Yun, Kazuya Mochiduki, Ienari Iguchi, Takeshi Hatano, Huabing Wang, Akira Ishii.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2016-05-24 16:03:04 +0900 更新時刻 :2019-03-26 10:11:03 +0900

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