Scanning SQUID Microscopy Observation of Grain Boundary Junction in Tri-Phase Epitaxy NbBa2Cu3O7-δThin Film
(TPE法により作製されたNdBa2Cu3O7-δ薄膜　粒界接合の走査SQUID顕微鏡観察)

著者	Shunichi Arisawa, Kyungsung Yun, Kazuya Mochiduki, Ienari Iguchi, Takeshi Hatano, Huabing Wang, Akira Ishii.
掲載誌名	Transactions of the Materials Research Society of Japan 35 [1] 195-196 ISSN: 13823469
出版社
発表年	2010
言語	English
DOI	https://doi.org/10.14723/tmrsj.35.195
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