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透過型電子顕微鏡の組成分析への超伝導遷移端センサの応用

原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久.
OYO BUTURI 81 [2] 139-142. 2012.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 16:29:05 +0900更新時刻: 2024-05-03 11:41:10 +0900

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