HOME > 論文 > 書誌詳細透過型電子顕微鏡の組成分析への超伝導遷移端センサの応用原 徹, 田中啓一, 前畑京介, 満田和久. OYO BUTURI 81 [2] 139-142. 2012.https://doi.org/10.11470/oubutsu.81.2_139 NIMS著者原 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 16:29:05 +0900 更新時刻: 2026-10-08 08:36:01 +0900
