HOME > 論文 > 書誌詳細Atomic-scale characterization of metal micro-electrodes grown on clean semiconductor surfaces(半導体清浄表面上に成長した金属微細電極の原子スケール観察)Takashi Uchihashi, Urs Ramsperger. Thin Solid Films 438-439 61-64. 2003.https://doi.org/10.1016/s0040-6090(03)00759-4 NIMS著者内橋 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:55:52 +0900 更新時刻: 2026-10-03 05:59:07 +0900