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Atomic-scale characterization of metal micro-electrodes grown on clean semiconductor surfaces
(半導体清浄表面上に成長した金属微細電極の原子スケール観察)

Takashi Uchihashi, Urs Ramsperger.
Thin Solid Films 438-439 61-64. 2003.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 11:55:52 +0900 更新時刻: 2026-10-03 05:59:07 +0900

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