HOME > 論文 > 書誌詳細電子デバイスのオペランド光電子分光実験(Operando Scanning Photoelectron Microscopy Analysis for Electronic Devices)永村 直佳, 堀場 弘司, 尾嶋 正治. 表面科学 37 [1] 25-30. 2016.https://doi.org/10.1380/jsssj.37.25 NIMS著者永村 直佳Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-11-30 23:47:52 +0900 更新時刻 :2022-10-22 02:36:28 +0900