Electron induced nano-deposition of tungsten using field emission scanning and transmission electron microscopes
(電界放射型の走査および透過電子顕微鏡を用いたタングステンの電子線誘起ナノデポジション)
NIMS著者
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作成時刻: 2016-05-24 12:02:40 +0900更新時刻: 2024-04-01 17:28:44 +0900