HOME > 論文 > 書誌詳細Grazing Exit Electron Probe Microanalysis of Submicron Inclusions in Metallic Materials(斜出射EPMA法による金属材料中のサブミクロン介在物の分析)Tohru Awane, Takashi Kimura, Kenji Nishida, Nobuhiro Ishikawa, Shigeo Tanuma, Morihiko Nakamura. Analytical Chemistry 75 [15] 3831-3836. 2003.https://doi.org/10.1021/ac020740l NIMS著者石川 信博Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:58:16 +0900 更新時刻: 2026-10-03 06:42:14 +0900