In-depth S/TEM observation of Ti–Hf and Ta–Hf-doped Nb<sub>3</sub>Sn layers | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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In-depth S/TEM observation of Ti–Hf and Ta–Hf-doped Nb₃Sn layers
(NA)

Nobuya Banno, Taku Moronaga, Toru Hara, Koki Asai, Tsuyoshi Yagai.

Superconductor Science and Technology 37 [3] 035019. 2024.

https://doi.org/10.1088/1361-6668/ad2982

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2024-04-09 03:12:00 +0900更新時刻: 2024-09-14 04:30:02 +0900

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