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Surface potential imaging and characterizations of a GaN p-n junction with Kelvin probe force microscopy

著者Tomonori Nakamura, Nobuyuki Ishida, Keisuke Sagisaka, Yasuo Koide.
掲載誌名AIP Advances 10 [8] 085010
ISSN: 21583226
ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社AIP Publishing
発表年2020
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1063/5.0007524
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