Ga,N solubility limit in co-implanted ZnO measured by secondary ion mass spectrometry | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Ga,N solubility limit in co-implanted ZnO measured by secondary ion mass spectrometry
(Ga,Nの酸化亜鉛への同時イオン注入における固溶限の2次イオン質量分析計による測定)

Manabu Komatsu, Naoki Ohashi, Isao Sakaguchi, Shunichi Hishita, Hajime Haneda.

Applied Surface Science 189 [3-4] 349-352. 2002.

https://doi.org/10.1016/s0169-4332(01)01026-1

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作成時刻: 2016-05-24 11:49:32 +0900 更新時刻: 2026-11-04 06:15:48 +0900

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