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Hydrogen-terminated defects in ion-implanted silicon probed by monoenergetic positron beams
(低速陽電子ビームによるイオン注入Siの水素ー空孔複合体の検出)

Akira Uedono, Toshiki Mori, Kunitomo Morisawa, Kouichi Murakami, Toshiyuki Ohdaira, Ryoichi Suzuki, Tomohisa Mikado, Kunie Ishioka, Masahiro Kitajima, Shunichi Hishita, Hajime Haneda, Isao Sakaguchi.
Journal of Applied Physics 93 [6] 3228-3233. 2003.

NIMS著者


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    作成時刻 :2016-05-24 11:55:54 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:58:30 +0900

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