HOME > 論文 > 書誌詳細Quantifying mean inner potential of ZnO nanowires by off-axis electron holography(オフ角電子ホログラフィによるZnOナノワイヤの実効内部ポテンシャル計測)Yong Ding, Yuzi Liu, Ken C. Pradel, Yoshio Bando, Naoki Fukata, Zhong Lin Wang. Micron 78 67-72. 2015.https://doi.org/10.1016/j.micron.2015.07.008 Open Access Elsevier BV (Publisher) NIMS著者板東 義雄深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 17:58:35 +0900更新時刻: 2024-04-30 04:18:46 +0900