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著者名Wei Yi, Jun Chen, Shun Ito, Koji Nakazato, Takashi Kimura, Takashi Sekiguchi, Kozo Fujiwara.
タイトルInvestigation of Si Dendrites by Electron-Beam-Induced Current
掲載誌名Crystals 8 8 317
ISSN: 20734352
発表年2018
言語English
DOI10.3390/cryst8080317
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