応力・歪み場走査型プローブ顕微鏡の開発と応用
(Development and Application of Scanning Probe Microscopy with Externally Applied Stress and Strain)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 17:16:46 +0900更新時刻: 2018-06-15 22:41:01 +0900