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Atomic Force Microscope Based Lithography of YBa2Cu3O7-δ Thin Films
(AFMを用いたYBa2Cu3O7-δ 薄膜のリソグラフィー)

Japanese Journal of Applied Physics 45 [7] 5742-5745. 2006.

NIMS著者


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    作成時刻: 2016-05-24 15:00:25 +0900更新時刻: 2024-04-01 21:14:50 +0900

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