XPS Study of Surface Enrichment Process of Carbon on C-Doped Ni(111) Using Inelasstic Background Analysis | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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XPS Study of Surface Enrichment Process of Carbon on C-Doped Ni(111) Using Inelasstic Background Analysis
(Ｃを固溶させたNi(111)単結晶表面での炭素原子富化過程のXPS非弾性散乱電子バックグラウンド解析による研究)

D. Fujita, S.Tougaard, M.Schleberger, M. Schleberger, S. Tougaard.

Surface Science 331-333 343-348. 1995.

https://doi.org/10.1016/0039-6028(95)00312-6

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作成時刻: 2016-05-24 11:35:38 +0900 更新時刻: 2026-11-01 04:49:48 +0900

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