Huiwen Lin; Kohei Uosaki; Hidenori Noguchi

doi:10.1016/j.apsusc.2021.151040

Lithiation of the crystalline silicon as analyzed using soft X-ray emission spectroscopy and windowless energy dispersive X-ray spectroscopy

著者	Huiwen Lin, Kohei Uosaki, Hidenori Noguchi.
掲載誌名	Applied Surface Science 569 151040 ISSN: 01694332 ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社	Elsevier BV
発表年	2021
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2021.151040
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