SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 詳細

論文の表示

著者名Yoshiyuki Yamashita, Toyohiro Chikyow.
タイトルOrigin of Fermi level pinning in high-k gate stack structures studied by operando hard x-ray photoelectron spectroscopy
掲載誌名Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 238 146890
ISSN: 03682048
発表年2020
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1016/j.elspec.2019.146890
この文献をMendeleyにインポートMendeley

▲ページトップへ移動