論文の表示
| 著者名 | Takashi Sekiguchi, Hideo Iwai. |
|---|---|
| タイトル | Low-pass secondary electron detector for outlens scanning electron microscopy |
| 掲載誌名 | Japanese Journal of Applied Physics 54 [8] 088001 ISSN: 13474065, 00214922 ESIでのカテゴリ: PHYSICS |
| 出版社 | Japan Society of Applied Physics |
| 発表年 | 2015 |
| 言語 | English |
| DOI | https://doi.org/10.7567/jjap.54.088001 |
| この文献をMendeleyにインポート |  |