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| 著者名 | Takashi Sekiguchi, Hideo Iwai. |
|---|---|
| タイトル | Low-pass secondary electron detector for outlens scanning electron microscopy |
| 掲載誌名 | Japanese Journal of Applied Physics 54 [8] 088001 ISSN: 00214922 13474065 |
| 発表年 | 2015 |
| 言語 | English |
| DOI | 10.7567/jjap.54.088001 |
| ESIでのカテゴリ | PHYSICS |
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