HOME > 論文 > 書誌詳細Irradiation Temperature Dependence of Residual Defects in 17MeV-Proton Bombereded Silicon(17MeVプロトン照射したSiにおける残留欠陥の照射温度依存性)AMEKURA, Hiroshi, 岸本直樹, KONO, Kenichiro, 斎藤鉄哉. Materials Science Forum 1159-1164. 1995.NIMS著者雨倉 宏河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:39:05 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:05 +0900