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Irradiation Temperature Dependence of Residual Defects in 17MeV-Proton Bombereded Silicon
(17MeVプロトン照射したSiにおける残留欠陥の照射温度依存性)

AMEKURA, Hiroshi, 岸本直樹, KONO, Kenichiro, 斎藤鉄哉.
Materials Science Forum 1159-1164. 1995.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2022-11-15 00:39:05 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:05 +0900

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