HOME > 論文 > 書誌詳細Electrical properties and characterization of In2O3(ZnO)m thin films(In2O3(ZnO)m薄膜の電気特性とキャラクタリゼーション)Tsuyoshi Ogino, Mamabu Komatsu, Naoki Ohashi, Isao Sakaguchi, Shunichi Hishita, Tadashi Takenaka, Hajime Haneda. Key Engineering Materials 214-215 199-202. 2001.https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.214-215.199 NIMS著者大橋 直樹坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:53:02 +0900 更新時刻: 2026-09-30 04:55:55 +0900
