HOME > 論文 > 書誌詳細誘電特性変化を利用した非破壊検査技術(Non-destructive evaluation methods using change of dielectric properties)香川 豊, 松村 功徳, 内藤 公喜. セラミックス 41 [6] 463-468. 2006.NIMS著者内藤 公喜Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:01:32 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:36:16 +0900