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Common Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope

R. Yamamoto, K. Sakai, K. Maehisa, K. Nagayoshi, T. Hayashi, H. Muramatsu, Y. Nakashima, K. Mitsuda, N. Y. Yamasaki, Y. Takei, M. Hidaka, S. Nagasawa, K. Maehata, T. Hara.
Journal of Low Temperature Physics 184 [1-2] 454-459. 2016.

NIMS著者


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    作成時刻: 2018-09-27 10:53:57 +0900更新時刻: 2024-12-12 05:20:53 +0900

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