Common Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope

著者	R. Yamamoto, K. Sakai, K. Maehisa, K. Nagayoshi, T. Hayashi, H. Muramatsu, Y. Nakashima, K. Mitsuda, N. Y. Yamasaki, Y. Takei, M. Hidaka, S. Nagasawa, K. Maehata, T. Hara.
掲載誌名	Journal of Low Temperature Physics 184 [1-2] 454-459 ISSN: 00222291, 15737357 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社	Springer Nature
発表年	2016
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1007/s10909-016-1562-4
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