Common Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope
R. Yamamoto, K. Sakai, K. Maehisa, K. Nagayoshi, T. Hayashi, H. Muramatsu, Y. Nakashima, K. Mitsuda, N. Y. Yamasaki, Y. Takei, M. Hidaka, S. Nagasawa, K. Maehata, T. Hara.
