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著者名R. Yamamoto, K. Sakai, K. Maehisa, K. Nagayoshi, T. Hayashi, H. Muramatsu, Y. Nakashima, K. Mitsuda, N. Y. Yamasaki, Y. Takei, M. Hidaka, S. Nagasawa, K. Maehata, T. Hara.
タイトルCommon Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope
掲載誌名JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS 184 1-2 454 459
発表年2016
言語English
DOI10.1007/s10909-016-1562-4
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