Common Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope

R. Yamamoto; K. Sakai; K. Maehisa; K. Nagayoshi; T. Hayashi; H. Muramatsu; Y. Nakashima; K. Mitsuda; N. Y. Yamasaki; Y. Takei; M. Hidaka; S. Nagasawa; K. Maehata; T. Hara; R. Yamamoto; K. Sakai; K. Maehisa; K. Nagayoshi; T. Hayashi; H. Muramatsu; Y. Nakashima; K. Mitsuda; N. Y. Yamasaki; Y. Takei; M. Hidaka; S. Nagasawa; K. Maehata; T. Hara

doi:10.1007/s10909-016-1562-4

Common Bias Readout for TES Array on Scanning Transmission Electron Microscope

R. Yamamoto, K. Sakai, K. Maehisa, K. Nagayoshi, T. Hayashi, H. Muramatsu, Y. Nakashima, K. Mitsuda, N. Y. Yamasaki, Y. Takei, M. Hidaka, S. Nagasawa, K. Maehata, T. Hara.

Journal of Low Temperature Physics 184 [1-2] 454-459. 2016.

https://doi.org/10.1007/s10909-016-1562-4

NIMS author(s)

HARA, Toru

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

Created at: 2018-09-27 10:53:57 +0900Updated at: 2024-04-01 22:43:07 +0900